Tokio, Japón - 18 de noviembre de 2010
Yokogawa Electric Corporation / Corporación Eléctrica Yokogawa anuncia que ha desarrollado la serie MT6530 de sistemas de prueba de memorias de oblea para la producción en serie de dispositivos de memoria. La serie saldrá a la venta en enero de 2011.
La nueva serie MT6530, que sucede al sistema de pruebas de memoria para obleas MT6121 de Yokogawa, presenta una frecuencia de pruebas mejorada y una mayor eficacia de las pruebas en paralelo. El resultado es una reducción del 75% del tiempo de prueba por oblea de 300 mm, lo que la convierte en la solución de pruebas de mejor rendimiento disponible en el mercado. La serie MT6530, muy rentable, está destinada principalmente a la producción en serie de DRAM*1, así como de memorias NAND, NOR y otros tipos de memoria flash*2.
Yokogawa presentará esta serie en SEMICON Japan 2010, que se celebrará en el complejo internacional de convenciones Makuhari Messe a partir del 1 de diciembre de 2010.
MT6531
Desarrollo Antecedentes
Los fabricantes de semiconductores se han esforzado por reducir radicalmente los costes de fabricación para seguir siendo competitivos a escala mundial. Una de estas iniciativas ha consistido en el desarrollo de tecnología de encogimiento para aumentar el número de chips que pueden obtenerse de una sola oblea. La reducción de los costes de ensayo también es clave para reforzar la competitividad.
Las DRAM son dispositivos de memoria semiconductores muy conocidos que han impulsado el crecimiento del mercado de los semiconductores. Aunque un gran número de DRAM se utilizan en ordenadores personales, también se emplean cada vez más en teléfonos móviles, smartphones y tabletas. Se espera que las DRAM sigan representando una gran parte del mercado de semiconductores. En respuesta a estas necesidades, Yokogawa ha desarrollado nuevos sistemas de ensayo de memorias para obleas que son especialmente eficaces para realizar ensayos de DRAM de forma eficiente y a bajo coste.
Características del producto
- El triple de rendimiento
Los comprobadores de la serie MT6530 pueden comprobar simultáneamente un máximo de 1.536 unidades de prueba, el triple que el MT6121. Esto ha sido necesario gracias a los avances en la tecnología de encogimiento, que han aumentado el número de chips que pueden obtenerse de una sola oblea. Los comprobadores de la serie MT6530 permiten abaratar los costes de las pruebas al reducir el tiempo de ensayo y el número de tomas de contacto. - Adecuado para dispositivos de alta velocidad y alta frecuencia
Los comprobadores de la serie MT6530 tienen una frecuencia de funcionamiento máxima de 444 MHz y transfieren datos a 888 Mbps, es decir, 1,6 veces más rápido que el MT6121. Por tanto, los comprobadores de la serie MT6530 son muy adecuados para pruebas de alta velocidad y alta frecuencia de DRAM para teléfonos móviles, smartphones y tabletas.
Principales mercados destinatarios
Fabricantes de dispositivos integrados (IDM) y empresas especializadas en pruebas de dispositivos semiconductores de memoria.
Aplicaciones
Pruebas de pasa/no pasa, pruebas de redundancia y pruebas KGD*3 de DRAM para ordenadores personales y LPDDR2*4 para teléfonos móviles, teléfonos inteligentes y tabletas.
*1 DRAM
Tipo de memoria de acceso aleatorio que lee y escribe datos en cualquier orden y es volátil (necesita actualizarse periódicamente). Se utiliza principalmente en ordenadores personales.
*2 Memoria Flash
NAND: un tipo de memoria flash no volátil que siempre se puede escribir y leer. Las tarjetas de memoria flash de este tipo tienen mayores densidades de almacenamiento y se utilizan en cámaras digitales y similares.
NOR: tipo de memoria flash no volátil que ofrece un rendimiento de acceso aleatorio superior y se utiliza habitualmente en teléfonos móviles.
*3 KGD
Se refiere a la práctica de garantizar la calidad probando una oblea antes de que los chips individuales se empaqueten y envíen a los usuarios finales. También se refiere a los chips que han sido probados de esta manera.
*4 LPDDR2s
Significa doble velocidad de datos 2 de bajo consumo. Se trata de una norma DRAM establecida por la Asociación de Tecnología de Estado Sólido JEDEC de Estados Unidos. También se refiere a los chips que cumplen esa norma. LPDDR2 se utiliza principalmente en dispositivos electrónicos portátiles, como teléfonos móviles. Las pruebas KGD son esenciales en la producción de LPDDR2.
Sobre Yokogawa
Yokogawa's global network of 25 manufacturing facilities and 80 companies spans 54 countries. Since its founding in 1915, the US$3 billion company has been engaged in cutting-edge research and innovation, securing more than 7,200 patents and registrations, including the world's first digital sensors for flow and pressure measurement. Industrial automation and control, test and measurement, information systems and industry support are the core businesses of Yokogawa. For more information about Yokogawa, please visit our web site at www.yokogawa.com