Tóquio, Japão - 18 de novembro de 2010
Yokogawa Electric Corporation anuncia que desenvolveu a série MT6530 de sistemas de teste de memória de wafer para a produção em massa de dispositivos de memória. A série será lançada em janeiro de 2011.
A recém-desenvolvida série MT6530, que sucede o sistema de teste de memória de wafer MT6121 da Yokogawa, apresenta frequência de teste aprimorada e maior eficiência de testes paralelos. Isso resulta em uma redução de 75% no tempo de teste por wafer de 300 mm, o que torna essa solução de teste de melhor desempenho disponível no mercado. A série MT6530, altamente econômica, é voltada principalmente para a produção em massa de DRAM*1, bem como de NAND, NOR e outros tipos de memória flash*2.
Yokogawa apresentará essa série na SEMICON Japan 2010, que será realizada no complexo internacional de convenções Makuhari Messe a partir de 1º de dezembro de 2010.
MT6531
Histórico de desenvolvimento
Os fabricantes de semicondutores têm se esforçado para reduzir radicalmente os custos de fabricação a fim de se manterem competitivos globalmente. Uma dessas iniciativas envolveu o desenvolvimento de tecnologia de encolhimento para aumentar o número de chips que podem ser obtidos em um único wafer. A redução dos custos de teste também é fundamental para fortalecer a competitividade.
As DRAMs são dispositivos de memória semicondutores bem conhecidos que impulsionaram o crescimento do mercado de semicondutores. Embora um grande número de DRAMs seja usado em computadores pessoais, elas também estão sendo cada vez mais usadas em telefones celulares, smartphones e tablets. Espera-se que as DRAMs continuem a representar uma grande parcela do mercado de semicondutores. Em resposta a essas necessidades, a Yokogawa desenvolveu novos sistemas de teste de memória de wafer que são especialmente eficazes na realização de testes de DRAM com eficiência e baixo custo.
Recursos do produto
- Triplicar a taxa de transferência
Os testadores da série MT6530 podem testar simultaneamente um máximo de 1.536 DUTs, o que representa o triplo da taxa de transferência do MT6121. Isso se tornou necessário devido aos avanços na tecnologia de encolhimento, que aumentaram o número de chips que podem ser obtidos em um único wafer. Os testadores da série MT6530 possibilitam custos de teste mais baixos, reduzindo o tempo de teste e o número de touchdowns. - Adequado para dispositivos de alta velocidade e alta frequência
Os testadores da série MT6530 têm uma frequência operacional máxima de 444 MHz e transferem dados a 888 Mbps, o que é 1,6 vezes mais rápido que o MT6121. Os testadores da série MT6530 são, portanto, adequados para testes de alta velocidade e alta frequência de DRAMs para telefones celulares, smartphones e tablets.
Principais mercados-alvo
Fabricantes de dispositivos integrados (IDM) e casas de testes especializadas em testes de dispositivos de memória de semicondutores
Aplicação
Testes de aprovação/reprovação, testes de redundância e testes KGD*3 de DRAMs para computadores pessoais e LPDDR2s*4 para telefones celulares, smartphones e tablets
*1 DRAM
Um tipo de memória de acesso aleatório que lê e grava dados em qualquer ordem e é volátil (precisa ser atualizada periodicamente). É usada principalmente em computadores pessoais.
*2 Memória flash
NAND: um tipo de memória flash não volátil que sempre pode ser gravada e lida. Os cartões de memória flash desse tipo têm densidades de armazenamento maiores e são usados em câmeras digitais e similares.
NOR: um tipo de memória flash não volátil que oferece desempenho superior de acesso aleatório e é comumente usado em telefones celulares.
*3 KGD
Refere-se à prática de garantir a qualidade testando um wafer antes que os chips individuais sejam embalados e enviados aos usuários finais. Também se refere aos chips que foram testados dessa maneira.
*4 LPDDR2s
Significa taxa de dados dupla de baixa potência 2. Esse é um padrão de DRAM estabelecido pela JEDEC Solid State Technology Association dos EUA. Também se refere a chips que atendem a esse padrão. A LPDDR2 é usada principalmente em dispositivos eletrônicos portáteis, como telefones celulares. Os testes KGD são essenciais para a produção de LPDDR2s.
Sobre a Yokogawa
Yokogawa's global network of 25 manufacturing facilities and 80 companies spans 54 countries. Since its founding in 1915, the US$3 billion company has been engaged in cutting-edge research and innovation, securing more than 7,200 patents and registrations, including the world's first digital sensors for flow and pressure measurement. Industrial automation and control, test and measurement, information systems and industry support are the core businesses of Yokogawa. For more information about Yokogawa, please visit our web site at www.yokogawa.com